平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 型號:JC-008用途: 機(jī)械密封件、光學(xué)零件、平臺、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。 功率:20W 電源:220V/50Hz 燈源照射 平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做 平面平晶產(chǎn)品特點 *平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來 測量被測量面的平面度。 *平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定 高精度的平面零件,例如,平面光學(xué)零件、平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別于 計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
蘇經(jīng)理
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